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TE8000抗干擾介質(zhì)損耗測試儀

TE8000抗干擾介質(zhì)損耗測試儀

簡要描述:TE8000抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是我公司吸收國內(nèi)外同類儀器的優(yōu)點,精心設(shè)計研制而成的一款能全自動測試介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量(Cx)的智能化儀器。*采用第四代抗干擾技術(shù)-全自動反干擾源法,能夠在500KV及以下變電站等干擾強烈的場合準(zhǔn)確測量,*《DLT962-2005高壓介質(zhì)損耗測試儀通用技術(shù)條件》的相關(guān)要求。

訪問次數(shù):3281

所屬分類:(異頻)全自動介質(zhì)損耗測試儀

更新時間:2024-01-30

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹
品牌端懿電氣

TE8000抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是我公司吸收國內(nèi)外同類儀器的優(yōu)點,精心設(shè)計研制而成的一款能全自動測試介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量(Cx)的智能化儀器。TE8000抗干擾介質(zhì)損耗測試儀*采用第四代抗干擾技術(shù)-全自動反干擾源法,能夠在500KV及以下變電站等干擾強烈的場合準(zhǔn)確測量,*《DLT962-2005高壓介質(zhì)損耗測試儀通用技術(shù)條件》的相關(guān)要求。本抗干擾介質(zhì)損耗測試儀廣泛適用于變壓器、互感器、高壓套管、電力電纜、電容器等電氣設(shè)備及絕緣材料的介質(zhì)損耗及電容量的測試,用以鑒別因污穢、破裂、穿孔、老化、受潮引起的絕緣缺陷。

產(chǎn)品特性:

(1) 反干擾源:儀器先測量干擾電流的幅值和相位,然后在內(nèi)部產(chǎn)生一個幅值相等、相位相反的反干擾信號來抵消干擾電流,從而有效消除現(xiàn)場干擾對測試數(shù)據(jù)的影響。實踐使用證明,該方法抗干擾效果優(yōu)于“倒相法”、“移相法”和“變頻法”。
(2) 整體屏蔽:采用雙層整體屏蔽機箱,能有效阻擋外界電磁干擾。采用高壓屏蔽軟電纜,可直接引至試品,測試安全方便,并有效消除了對地雜散電容的影響。
(3) 使用方便:可自由選擇輸出高壓,啟動后全自動升壓測試。采用中文菜單操作,測量電容值、介損值等顯示結(jié)果直觀。內(nèi)置的前換紙打印機能以中文模式打印記錄數(shù)據(jù),換紙更加方便。
(4) 技術(shù)先進:全數(shù)字化,內(nèi)建精密數(shù)學(xué)模型。
(5) 精度高:具有較高的分辨率和精度,測試結(jié)果重復(fù)性好,配上標(biāo)準(zhǔn)油杯后,可測量絕緣油的介質(zhì)損耗因素。
(6) 通訊接口:留有“通訊接口”,其中包括RS232計算機接口方便地與筆記本電腦連接,進行數(shù)據(jù)處理;和“JTAG在線編程接口”,可由筆記本電腦對儀器進行現(xiàn)場在線編程,可對儀器不拆機進行升級處理;使用時,必須配用接線座和軟件,本儀器不提供此配件。
(7) 數(shù)據(jù)記錄:儀器能記錄100組測試數(shù)據(jù),以測試日期、時間的形式存儲,日后可調(diào)用查看或打印,有利于歷史數(shù)據(jù)的縱向比較和歷史臺帳的建立。
(8) 攜帶方便:采用一體化結(jié)構(gòu),設(shè)計合理,體積只有同類產(chǎn)品的1/2~2/3,攜帶十分方便。

技術(shù)參數(shù):

使用電源   本儀器使用220(1±10%)V,50(1±2%)Hz電源
 使用環(huán)境   環(huán)境溫度:-10℃~40℃   相對濕度:≤80%
 外形尺寸   長400mm*寬330mm*高395mm
 質(zhì)量   20Kg
 測試工作方式   正接法  反接法  抗干擾正接法  抗干擾反接法
 輸出功率   內(nèi)部高壓zui大容量:1.5KVA
  輸出zui大電流:150mA
 安全性能   絕緣電阻:電源對地≥2MΩ,高壓輸出對地≥50MΩ
  交流耐壓:電源對地1500v耐壓1min,高壓輸出對地15KV耐壓1min,無飛弧和擊穿
 抗干擾性能   | 干擾 /  | 試品 <2,磁場干擾<5高斯下滿足測試精度要求。
 電容測量范圍   10KV: 0~40000pF    
  <5KV: 0~0.1μF
 電容zui小分辨率   0.001pF
 電容精度   正接 ±(2%讀數(shù)+2pF)
  反接 ±(2%讀數(shù)+10pF)
 電壓輸出   范圍:1KV、1.5KV、2KV、2.5KV、3KV、5KV、7.5KV、10KV
  失真度:<2%THD(10KV下線性負(fù)載)
  精度:±(1%讀數(shù)+10V)
 介損測量范圍   0~50%
 介損測量精度
測試內(nèi)容 電容量范圍(Cx) 試品類型 基本誤差
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ 200pF~40000pF 非接地 ±(2%讀數(shù)+0.0005)
接地 ±(2%讀數(shù)+0.0010)
10pF~200pF或40000pF以上 非接地 ±(2%讀數(shù)+0.0010)
接地 ±(2%讀數(shù)+0.0020)
3pF~10pF 非接地與接地
 

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